MIERNIK GRUBOŚCI POWŁOK F1/N1 0 - 1250 µm
KGI502.433
-
ProducentGimex Dr. Gao Import Export GmbH
-
Podatek VAT23,00%
-
Waga1,925kg
-
Waga netto0,497kg
-
Kod producentaGIM_502.433
Opis towaru
| Zakres µm | Odczyt µm | Dokładność µm | Sonda |
| 0 - 1250 | 0,1 (od 1 do 100 µm) | 1% + 1 | F1 + N1 |
- pomiar grubości powłoki metodą magnetyczną i prądem wirowym
- z dwiema sondami zewnętrznymi F1 i N1
- nadaje się do powłok wykonanych z cynku, aluminium, chromu, miedzi, gumy, farb, tworzyw sztucznych, anodowanych
- zakres: 0 - 1250 µm
- wysoka dokładność: ± (1% H + 1 µm)
- odczyt: 0,1 µm poniżej 99,9 µm, 1 µm powyżej 100 µm
- metoda kalibracji: jeden punkt i dwa punkty
- tryb pomiaru: pojedynczy lub szeregowy
- z pamięcią danych dla 500 wartości pomiarowych
- wyjście danych: USB + WIFI
- zasilanie: 2 x bateria AA
- w zestawie:
1 x urządzenie
1 x sonda F1 i 1 x sonda N1
5 x sprawdzian kontrolny
1 x płyta aluminiowa i 1 x płyta żelazna
walizka
Karta produktu oraz dodatkowe informacje znajdują się w zakładce: Pliki do pobrania
Cechy towaru
-
Podatek VAT23,00%
-
Waga1,925kg
-
Waga netto0,497kg
-
Kod producentaGIM_502.433
-
SymbolGIM_502.433
Podmiot odpowiedzialny